Surface-Inspection-Pad (SIP)

  • Das Surface-Inspection-Pad, kurz SIP, bietet eine kostengünstige und ressourcenschonende Alternative zur Probennahme für eine vakuumgestützte Kontaminationskontrolle von Bauteiloberflächen. Die Analyse der Oberflächenchemie des Bauteils erfolgt dann durch die Analyse der SIP-Oberfläche. Zur Analyse kann neben anderen Methoden insbesondere die oberflächensensitive Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) verwendet werden. Die zu untersuchenden Bauteile müssen somit nicht mehr aus dem Prozess entfernt und für die Analyse zerstört werden. Der Anwendende kann so enorme Kosten einsparen. Weiterhin können SIPs für die Kontaminationskontrolle in Schmierstoffkreisläufen und Flüssigkeiten eingesetzt werden. Silikonöl (PDMS) wird dabei in Flüssigkeiten bisher mit einer Nachweisgrenze von unter 10–6 (ppm) nachgewiesen.

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Metadaten
Author:Michael Wahl, Wolfgang Bock, Michael Kopnarski
URN:urn:nbn:de:hbz:386-kluedo-88921
DOI:https://doi.org/10.1002/vipr.202300808
ISSN:0947-076X
Parent Title (German):Vakuum in Forschung und Praxis
Publisher:Wiley
Document Type:Article
Language of publication:German
Date of Publication (online):2025/04/01
Year of first Publication:2023
Publishing Institution:Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau
Date of the Publication (Server):2025/04/08
Issue:(2023) Vol.35 / 5
Page Number:7
First Page:26
Last Page:32
Source:https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/vipr.202300808
Faculties / Organisational entities:Kaiserslautern - Fachbereich Physik
DDC-Cassification:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 600 Technik
Collections:Open-Access-Publikationsfonds
Licence (German):Creative Commons 4.0 - Namensnennung (CC BY 4.0)